老化測(cè)試主要是模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用過(guò)程中的各種惡劣條件的高強(qiáng)度測(cè)試，同時(shí)根據(jù)使用的要求，合理地預(yù)測(cè)產(chǎn)品使用壽命，高溫老化測(cè)試也就是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

高溫老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，IEIA 364， MIL-STD-810F等。

高溫老化測(cè)試的目的
高溫老化測(cè)試是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，車(chē)用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器等）模擬高溫、惡劣環(huán)境的可靠性測(cè)試，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要手段、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程。

高溫老化測(cè)試判定標(biāo)準(zhǔn)
1、升溫時(shí)間的測(cè)試
將溫度傳感器置于高溫老化試驗(yàn)箱工作空間內(nèi)任意一點(diǎn)，用全功率加熱，記錄工作室溫度從室溫升至第一次達(dá)到最高工作溫度的時(shí)間，其結(jié)果應(yīng)不超過(guò)120min。
2.表面溫度測(cè)試
在高溫老化試驗(yàn)箱工作溫度第一次達(dá)到最高工作溫度并穩(wěn)定2h后，用溫度計(jì)測(cè)試箱體表面的溫度，其最高工作溫度不超過(guò)200℃的試驗(yàn)箱，表面溫度應(yīng)不大于室溫加35℃；最高工作溫度超過(guò)200℃，表面溫度應(yīng)按式?jīng)Q定。
3.絕緣電阻測(cè)試
應(yīng)按GB998中第6.2條規(guī)定方法進(jìn)行測(cè)試，其結(jié)果應(yīng)符合電加熱器端子（包括引線）與控制系統(tǒng)開(kāi)路時(shí)，對(duì)箱殼應(yīng)承受電壓1500V，交流50H，歷時(shí)1min的絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)，其絕緣應(yīng)不被擊穿。
4、絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)
應(yīng)按GB998中第6.3條規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)結(jié)果符合電加熱器端子（包括引線）與控制系統(tǒng)開(kāi)路時(shí)，對(duì)箱殼應(yīng)承受電壓1500V，交流50H，歷時(shí)lmin的絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)，其絕緣應(yīng)不被擊穿。
5、噪聲測(cè)試
按ZBNG61012中規(guī)定方法進(jìn)行測(cè)試，其結(jié)果整機(jī)噪聲不高干70dB。
經(jīng)過(guò)特定的試驗(yàn)條件的高溫老化后，再對(duì)老化對(duì)象進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量，篩選、剔除變質(zhì)或失效的元器件，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之前。這種為提高電子電工產(chǎn)品可靠性和延長(zhǎng)產(chǎn)品使用壽命，對(duì)產(chǎn)品的穩(wěn)定性進(jìn)行必要的考核，以便剔除那些有“早逝”缺陷的潛在“個(gè)體”（元器件）確保整機(jī)品質(zhì)和期望壽命的工藝就是高溫老化的原理。