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一、自動(dòng)駕駛計(jì)算芯片 1.1 自動(dòng)駕駛計(jì)算芯片簡(jiǎn)介 自動(dòng)駕駛芯片是指可實(shí)現(xiàn)高級(jí)別自動(dòng)駕駛的 SoC 芯片。CPU作為通用處理...
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對(duì)于金屬成分分析的定義：成分分析是指通過科學(xué)分析方法對(duì)金屬樣品的各個(gè)元素成分進(jìn)行定性定量分析的技術(shù)方法。從分析...
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緊固件在工業(yè)體系中有著非常重要的作用，但因其體積較小容易被忽視，選型時(shí)除規(guī)格外主要考慮外觀的顏色和抗腐蝕性。本...
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什么是線路板離子污染物？ 離子污染物是指產(chǎn)品表面未被清洗掉的殘留物質(zhì)，它在潮濕環(huán)境中會(huì)電離為帶有正負(fù)電荷的可自...
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Decap：即開封，也稱開蓋，開帽，是指將完整封裝的IC做局部腐蝕，使得IC可以暴露出來 ，同時(shí)保持芯片功能的完整無損，...
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北測(cè)實(shí)驗(yàn)室能根據(jù)行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)則和客戶需求，為產(chǎn)品、原料及附件提供全面的檢測(cè)服務(wù)，幫助客戶最大限度減...
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中國(guó)是全球最大的學(xué)生用品生產(chǎn)基地。近年來，市場(chǎng)上出現(xiàn)了很多奇形新奇，色彩鮮艷的學(xué)生用品，較之以前的學(xué)...
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隨著生活水平的提高，童車童床的市場(chǎng)需求越來越大。由于這類產(chǎn)品主要面對(duì)的是行為能力較低的嬰幼兒，因此其...
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嬰童用品，包括撫慰睡眠、飲食嬰兒用品，如：手推車、童床、車奶瓶等，是兒童成長(zhǎng)過程中最常用的產(chǎn)品。隨著...
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玩具通常是指設(shè)計(jì)或者提供給14歲以下兒童玩耍和使用產(chǎn)品。按材料可以分為毛絨玩具、塑膠玩具、木質(zhì)玩具和金...
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由于玩具主要接觸人群是嬰幼兒小孩,安全性尤為重要。各個(gè)國(guó)家也相當(dāng)重視，出臺(tái)了相應(yīng)的法律法規(guī)。 ...
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阻燃測(cè)試是檢測(cè)產(chǎn)品和材料的燃燒特性，需要做阻燃測(cè)試的產(chǎn)品很多，如防火材料產(chǎn)品、建筑材料產(chǎn)品、電子電工...
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硬度是衡量材料軟硬程度的一種力學(xué)性能，是材料抵抗其它較硬物體壓入其表面的能力，幾乎所有材料都會(huì)產(chǎn)生塑...
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跌落測(cè)試分為包裝跌落和裸機(jī)跌落。包裝跌落主要考量運(yùn)輸、儲(chǔ)存情況下產(chǎn)品抗意外跌落沖擊的能力；裸機(jī)跌落主...
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振動(dòng)測(cè)試是在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)人工模擬產(chǎn)品（一般電工電子產(chǎn)品）在存儲(chǔ)、運(yùn)輸、安裝和使用過程中遇到的各種振動(dòng)環(huán)境...
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碰撞測(cè)試是通過碰撞測(cè)試臺(tái)，來模擬產(chǎn)品在使用、運(yùn)輸和卸載過程的機(jī)械碰撞環(huán)境。在重復(fù)性的機(jī)械碰撞環(huán)境下，...
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機(jī)械沖擊測(cè)試是實(shí)驗(yàn)室模擬產(chǎn)品在工作環(huán)境中受到一系列沖擊時(shí)候，產(chǎn)品功能是否正常，是否存在性能失效情況。...
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環(huán)境可靠性是指：產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過程中，不斷...
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本試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在高溫/低溫和低氣壓氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于溫度、氣...
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對(duì)于可便攜式、戶外用以及汽車電子均有防塵測(cè)試要求，在國(guó)際上不論是IEC、MIL或ETSI以及SAE均有制訂相對(duì)應(yīng)...
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鹽霧試驗(yàn)是一種主要利用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試...
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紫外老化測(cè)試又稱為UV老化測(cè)試，紫外老化并不模擬全光譜太陽(yáng)光，但卻模擬太陽(yáng)光的破壞作用。通過把熒光燈管...
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氙燈老化測(cè)試主要模仿自然界的陽(yáng)光和濕氣對(duì)材料的破壞，模擬全光譜太陽(yáng)光的照射條件下，檢測(cè)材料在陽(yáng)光下暴...
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高加速壽命測(cè)試（Highly Accelerated Life Testing，簡(jiǎn)稱HALT測(cè)試）是一種對(duì)電子和機(jī)械裝配件利用快速高、...
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三綜合測(cè)試是指“溫度+濕度+振動(dòng)綜合測(cè)試”，與單一因素作用相比，三綜合測(cè)試更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在...
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