步入式快速溫變?cè)囼?yàn)適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過此試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。步入式快速溫變?cè)囼?yàn)為設(shè)置一定的溫度變化速率進(jìn)行高溫與低溫之間的轉(zhuǎn)變。

在實(shí)際應(yīng)用中有兩類：
一類為慢速的溫度變化試驗(yàn)，其溫度變化速率＜3℃/min（一般各標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)常選擇參數(shù)為1℃/min），也既一般應(yīng)用中的溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變?cè)囼?yàn)（此三類為一種試驗(yàn)）；另一類為快速的溫度變化試驗(yàn)，其溫度變化速率≥3℃/min，也既一般應(yīng)用中的快速溫變?cè)囼?yàn)。溫度變化速率越快，考核越嚴(yán)酷。
快速溫度變化試驗(yàn)的特點(diǎn)：
產(chǎn)品在試驗(yàn)中工作、溫度變化的速率一定。溫度變化速率一般為3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min，15℃/min，20℃/min，21℃/min。
本試驗(yàn)適用于組件、裝備或其它產(chǎn)品。為產(chǎn)品模擬帶電工作時(shí)隨溫度的變化，如在系統(tǒng)/組件工作時(shí)快速改變周圍溫度。如果系統(tǒng)/組件處在熱浸透溫度（例如安裝在發(fā)動(dòng)機(jī)上的系統(tǒng)/組件），高溫階段附加的短暫溫度峰值要確保產(chǎn)品在這期間的基本功能。為避免系統(tǒng)/組件內(nèi)的電熱擴(kuò)散抑制系統(tǒng)/組件達(dá)到低溫的效果，故在降溫階段將產(chǎn)品關(guān)閉。失效模式為溫度變化引起的電氣故障溫度循環(huán)效應(yīng):喪失電性功能，潤(rùn)滑劑變質(zhì)而失去潤(rùn)滑作用，焊點(diǎn)裂化、PCB脫層、結(jié)構(gòu)喪失機(jī)械強(qiáng)度與塑性變形，玻璃與光學(xué)制品破裂，焊點(diǎn)裂錫， 零件特性能退化， 斷裂，移動(dòng)件松弛，材料收縮膨脹，氣密與絕緣保護(hù)失效。

執(zhí)行參考標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A：低溫
GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B：高溫
GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10592-2008技術(shù)條件
GJB150.3A-2009第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009第4部分：低溫試驗(yàn)