溫度沖擊試驗是指裝備周圍大氣溫度的急劇變化，溫度變化率大于10度/min，其試驗機理是利用物體中所含物質(zhì)的在不同溫度情況下因熱脹冷縮所產(chǎn)生的應(yīng)力考驗產(chǎn)品的質(zhì)量，一般有LED都要做的，此實驗本身是一個破壞性實驗。

溫度沖擊試驗的應(yīng)用范圍有：

 溫度沖擊試驗用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機械的組件，都會用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測試的必不可少的一項測試。

溫度變化的現(xiàn)場條件：

電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。

下列情況下，可預(yù)見快速的溫度變化

（1）當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時

（2）當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或入侵冷水中而突然冷卻時

（3）安裝于外部的機載設(shè)備中

（4）在某些運輸?shù)膬Υ鏃l件下

通電后設(shè)備會產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會經(jīng)受應(yīng)力，例如，在大功率的電阻器旁邊，輻射會引起鄰近元器件表面溫度身高，而其他部分仍然是冷的。

當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時，人工冷卻的元器件會經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時間間隔都是很重要的。