溫度沖擊試驗(yàn)是指裝備周圍大氣溫度的急劇變化，溫度變化率大于10度/min，其試驗(yàn)機(jī)理是利用物體中所含物質(zhì)的在不同溫度情況下因熱脹冷縮所產(chǎn)生的應(yīng)力考驗(yàn)產(chǎn)品的質(zhì)量，一般有LED都要做的，此實(shí)驗(yàn)本身是一個(gè)破壞性實(shí)驗(yàn)。

溫度沖擊試驗(yàn)的應(yīng)用范圍有：

 溫度沖擊試驗(yàn)用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的必不可少的一項(xiàng)測(cè)試。

溫度變化的現(xiàn)場(chǎng)條件：

電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時(shí)，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。

下列情況下，可預(yù)見(jiàn)快速的溫度變化

（1）當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時(shí)

（2）當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或入侵冷水中而突然冷卻時(shí)

（3）安裝于外部的機(jī)載設(shè)備中

（4）在某些運(yùn)輸?shù)膬?chǔ)存條件下

通電后設(shè)備會(huì)產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會(huì)經(jīng)受應(yīng)力，例如，在大功率的電阻器旁邊，輻射會(huì)引起鄰近元器件表面溫度身高，而其他部分仍然是冷的。

當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時(shí)，人工冷卻的元器件會(huì)經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過(guò)程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時(shí)間間隔都是很重要的。