材料可靠性實(shí)驗(yàn)室

高分子物理材料性能是指材料在不同環(huán)境（溫度、介質(zhì)、濕度）下，承受各種外加載荷（拉伸、壓縮、彎曲、扭轉(zhuǎn)、沖擊、交變應(yīng)力等）時(shí)所表現(xiàn)出的相關(guān)特征，并針對(duì)高分子材料可提供物理測(cè)試及分析服務(wù)。

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可靠性檢測(cè)與材料分析

可靠性檢測(cè)與材料分析

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金相分析試樣制作

金相試樣制備是金相研究非常重要的一部分，要對(duì)金屬材料的顯微組織進(jìn)行觀察，首先就必須制備金相試樣。一般金相試樣的制備過(guò)程包括取樣、鑲嵌、磨制、拋光、浸蝕等步驟。 一、取樣 取樣時(shí)應(yīng)根據(jù)零件的特點(diǎn)及檢驗(yàn)?zāi)?..

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灼熱絲測(cè)試

灼熱絲試驗(yàn)是電工電子產(chǎn)品行業(yè)用于測(cè)定電子產(chǎn)品的一種阻燃性能試驗(yàn)，為了測(cè)試電子電器產(chǎn)品在工作的時(shí)候的穩(wěn)定性。灼熱絲測(cè)試是一個(gè)物理實(shí)驗(yàn)，目的是測(cè)試電子電器產(chǎn)品在工作時(shí)的穩(wěn)定性。而灼熱絲本身其實(shí)是一個(gè)固定規(guī)格的電阻絲環(huán)，試驗(yàn)時(shí)要用電加熱到規(guī)定的溫度，使灼熱絲的頂端接觸樣品達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求時(shí)間，再觀察和測(cè)量其狀態(tài)，測(cè)試范圍取決于特定的試驗(yàn)程序。

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金相分析標(biāo)準(zhǔn)大全

1、金屬平均晶粒度 【001】金屬平均晶粒度測(cè)定 … GB 6394-2002 【010】鑄造鋁銅合金晶粒度測(cè)定…GB 10852-89 【019】珠光體平均晶粒度測(cè)定…GB 6394-2002 【062】金屬的平均晶粒度評(píng)級(jí)…ASTM E112 【074】黑白相面...

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表面微觀分析

表面微觀分析是利用顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡對(duì)樣品的表面、斷口及其它關(guān)注截面進(jìn)行高倍觀察。比如表面形貌、斷口形貌、金相組織、微觀層狀結(jié)構(gòu)等需要進(jìn)行高倍觀察的檢測(cè)項(xiàng)目。

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EDS成分分析

X射線能譜法\"EDS\"是用于樣品分析和表征的分析技術(shù)。通常通過(guò)配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用，是用來(lái)對(duì)材料微區(qū)成分元素種類(lèi)與含量進(jìn)行分析：利用電子束與物質(zhì)作用時(shí)產(chǎn)生的特征X射線，來(lái)提供樣品化學(xué)組成方面的信息，可定性、半定量檢測(cè)大部分元素（Be4-PU94），可進(jìn)行表面污染物的分析。

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紅外光譜分析（FTIR）

紅外光譜分析是一種將傅立葉變換的數(shù)學(xué)處理，用計(jì)算機(jī)技術(shù)與紅外光譜相結(jié)合的分析鑒定方法。主要由光學(xué)探測(cè)部分和計(jì)算機(jī)部分組成。紅外光譜分析可用于研究分子的結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵，也可以作為表征和鑒別化學(xué)物種的方法。紅外光譜具有高度特征性，可以采用與標(biāo)準(zhǔn)化合物的紅外光譜對(duì)比的方法來(lái)做分析鑒定。

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切片分析

切片分析技術(shù)在PCB/PCBA、零部件等制造行業(yè)中是最常見(jiàn)的也是重要的分析方法之一，通常被用作品質(zhì)判定和品質(zhì)異常分析、檢驗(yàn)電路板品質(zhì)的好壞、PCBA焊接質(zhì)量檢測(cè)、尋找失效的原因與解決方案、評(píng)估制程改進(jìn)，做為客觀檢查、研究與判斷的根據(jù)。

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