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高溫試驗(yàn)要多長(zhǎng)時(shí)間主要看被檢測(cè)的樣品主要應(yīng)用于哪個(gè)行業(yè),使用時(shí)的環(huán)境差不多就能判斷出檢測(cè)所需的溫度。然后在了解一下行業(yè)需要滿足的標(biāo)準(zhǔn),其中會(huì)規(guī)定樣品在高溫環(huán)境、低溫環(huán)境下各自儲(chǔ)存的時(shí)間,再加上高低溫循環(huán)次數(shù)以及高低溫試驗(yàn)箱升降溫所需的時(shí)間,差不多就能計(jì)算出一次高低溫試驗(yàn)所需的總時(shí)長(zhǎng)是多少。
如果需要長(zhǎng)時(shí)間且不間斷的進(jìn)行高低溫檢測(cè)的用戶,在挑選高低溫試驗(yàn)箱時(shí)盡量選擇品質(zhì)有保障的設(shè)備,確保在檢測(cè)的過(guò)程中不會(huì)因?yàn)樵O(shè)備故障而導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)無(wú)故停止。如果實(shí)驗(yàn)時(shí)間較短,且不確定是否還需進(jìn)行高溫試驗(yàn),可以選擇北測(cè)檢測(cè),收取費(fèi)用低、方式靈活,不需要在實(shí)驗(yàn)結(jié)束后不斷對(duì)溫濕度試驗(yàn)箱進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng)。
降溫范圍:從室溫降至-40℃,時(shí)間為45分鐘
高溫測(cè)試目的:用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存能力。
e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力加大或磨損大。
對(duì)于電子產(chǎn)品行業(yè)而言, 一般廠家均要求使用的高溫功率老化試驗(yàn),要做幾個(gè)或幾十個(gè)小時(shí),其主要的目的就是對(duì)存在多種潛在故障的元器件進(jìn)行篩選。